半導體測試電源

半導體測試電源是為測試半導體器件在各種環境條件下能完全實現設計規格書所規定的功能及性能指標設計的電源。可進行開路/短路測試、輸出驅動電流測試、漏電電源測試、轉換電平測試、立保持時間測試，功能速度測試、建立保持時間測試，功能速度測試、功能速度測試等等。臺灣洛儀半導體測試電源系列具有動態響應精卻可控、電壓和電流變化斜率高且可設定、穩定性高、易于集成和操作、低紋波和噪聲、靈活的功率調整輸出等特點，為測試產品提供真實有效的依據與保證。適用于二極管、LED、功率半導體元件測試或汽車電子、鉛酸電池或鋰離子電池測試等領域。

半導體測試電源特點：
動態響應精卻可控；
電壓和電流變化斜率高且可設定；
靈活的功率調整輸出；
采用FPGA數字化控制技術，整體模塊化設計，穩定性更好，可靠性更高；
采用新型線路設計，低紋波、低噪聲、高穩定性、無高頻干擾信號；
使用先進的直接數字合成（DDS）波形產生技術，頻率穩定性高，連續性好；
按鍵加飛梭編碼器調節輸出參數，可以做到微調與快速輸入調節，操作更便捷；
多種操作模式編程輸出，可實現模擬各種復雜的用電環境；
各種保護功能（OVP，OCP，OPP，OTP及編程保護）；
支持上位機操作功能，配有上位機軟件及外部通訊接口；
優化性系統散熱，可使設備長時間運行并保證數據的穩定性；
大屏幕液晶顯示器、可顯示參數、狀態及報警等全mian的數據；
大功率、快響應、數字化；
數字控制器+PLC+工業PC；
模塊化、單元化組建結構。

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半導體測試電源