馬爾文帕納科高分辯衍射儀XPert Pro MRD概述

X’Pert PRO MRD/XL是高及半導體材料的標準裝備，用于： 高及材料科學和納米技術，半導體材料研究和生產(chǎn)質量控制，可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如： 搖擺曲線分析和倒易空間Mapping， 反射率和薄膜相分析，殘余應力和織構分析， X’Pert PRO MRD/ XL 滿足半導體、LED、薄膜和高及工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。XL可以滿足直徑達 300 mm的晶片分析，并有精密的自動晶片裝載選擇；XL成為薄膜生產(chǎn)發(fā)展的先進的分析手段，LED的業(yè)界標準。

可以適用各種應用，尤其適合薄膜分析，例如：

·  振動曲線分析和交互空間圖
·  反射儀和薄膜相分析
·  殘余應力和織構分析

同已經(jīng)證明的標準版本系統(tǒng)一樣，還有許多專門的版本：

· X’Pert PRO MRD平面衍射系統(tǒng)，可以測量與樣品表面垂直的晶格衍射
· X’Pert PRO Extended MRD 允許裝備 X射線鏡像和在線高分辨單色器，增強入射光束的強度。
· X’Pert PRO MRD XL 滿足半導體，薄膜和高及工業(yè)材料的所有高分辨XRD分析需要。

馬爾文帕納科高分辯衍射儀XPert Pro MRD技術參數(shù)：

★ 功率：3kW

★ 測角儀重現(xiàn)性：0.0001度

★ 測角儀類型：T-2T

★ 五維樣品臺